1日でわかる新型自己分析 - Japan Search model RDF

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1日でわかる新型自己分析

description of https://jpsearch.go.jp/data/bibnl-20458272
rdf:type<https://jpsearch.go.jp/term/type/図書>
rdfs:label"1日でわかる新型自己分析"
schema:name 3"1nichi de wakaru shingata jiko bunseki" @en-jp
schema:name"1ニチ デ ワカル シンガタ ジコ ブンセキ" @ja-kana
schema:name"1日でわかる新型自己分析" @ja
ns0:accessInfo#accessinfo
ns0:agential 2_:vb11193464 (an orphan bnode)
ns0:agential_:vb11193463 (an orphan bnode)
ns0:sourceInfo#sourceinfo
ns0:spatial_:vb11193465 (an orphan bnode)
ns0:temporal_:vb11193466 (an orphan bnode)
schema:about<http://id.ndl.go.jp/class/ndlc/Y51> ( "試験問題集・就職案内--一般採用試験・就職試験")
schema:creator<http://id.ndl.go.jp/auth/entity/00756245> ( "細田, 恵子, 1959-")
schema:datePublished"2003-09"
schema:description 6"シリーズタイトル: 日経就職シリーズ"
schema:description"巻次・部編番号: 2005年度版"
schema:description"著者: 日経人材情報 編"
schema:description"著者: 細田恵子 カード監修・解説"
schema:description"資料種別: 図書"
schema:description"大きさ、容量等: 153p ; 21cm"
schema:identifier 2"JPNO:20458272"
schema:identifier"ISBN:4-89112-058-4"
schema:inLanguage<http://id.loc.gov/vocabulary/iso639-2/jpn> ( "日本語")
schema:isPartOf<https://jpsearch.go.jp/entity/general/日経就職シリーズ>
schema:isbn"4891120584"
schema:publisher<https://jpsearch.go.jp/entity/ncname/日経人材情報>
schema:spatial<https://jpsearch.go.jp/entity/place/東京> ( "東京都")
schema:temporal<https://jpsearch.go.jp/entity/time/2003> ( "2003年")
36 triples ()
36 triples